อย่างที่ผู้ผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ทุกคนทราบดี failure analysis ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่ซับซ้อนในปัจจุบันพลาดการยิงบ่อยครั้ง และการค้นหาสิ่งที่ผิดพลาดไม่ใช่เรื่องง่าย การวิเคราะห์ความล้มเหลวโดยใช้เทคนิคเอ็กซ์เรย์ความละเอียดสูงสามารถช่วยให้วิศวกรไฟฟ้าค้นพบและเข้าใจว่าความล้มเหลวทางอิเล็กทรอนิกส์อยู่ที่ใด failure analysis ในบทความนี้เราจะเข้าใจว่าทำไมการเอ็กซเรย์จึงมีประโยชน์สำหรับงานวิเคราะห์ความล้มเหลวทางอิเล็กทรอนิกส์
failure analysis เป็นองค์ประกอบที่สำคัญ
- failure analysis เนื่องจากเป็นการสนับสนุนทุกขั้นตอนที่จริงแล้ว หากคุณส่งตัวอย่างเพื่อการวิเคราะห์ จะช่วยได้มากหากคุณให้ข้อมูลโดยละเอียดเกี่ยวกับความถี่ของความล้มเหลว
- ภายใต้ภาระงานข้อมูลเพิ่มเติม การวิเคราะห์ที่ดีขึ้นความเหมาะสมของรังสีเอกซ์ ถ้าเป็นไปได้ เทคนิคการวิเคราะห์ต้องไม่ทำลายชิ้นงานที่มีข้อบกพร่อง นี่เป็นสิ่งสำคัญ
- วัตถุประสงค์ในการสุ่มตัวอย่างและการวิเคราะห์ส่วนประกอบที่มีราคาแพงบางอย่างfailure analysis เทคนิคต่างๆ เช่น การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน จำเป็นต้องมีการเตรียมการอย่างระมัดระวัง
การถ่ายภาพเอ็กซ์เรย์เหมาะอย่างยิ่งสำหรับเทคนิค ด้วยเหตุผลหลายประการ failure analysis มีความยาวคลื่นเล็ก ๆ ซึ่งเล็กกว่าแสงที่มองเห็นได้มาก failure analysis วิธีนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพเอ็กซ์เรย์ที่มีความละเอียดสูงได้ ซึ่งมีความสำคัญมากขึ้นเรื่อยๆ เมื่อขนาดของส่วนประกอบลดลง ปริมาณพลังงานที่ส่งผ่านรังสีเอกซ์ซึ่งแปลเป็นความยาวคลื่นที่มากหรือน้อยตามที่กำหนดโดยสมมติฐานของพลังค์สามารถเปลี่ยนแปลงได้ขึ้นอยู่กับข้อกำหนด
failure analysis พลังการทะลุทะลวงของรังสีเอกซ์
ช่วยให้วิศวกรสามารถมองลึกเข้าไปในโครงสร้างภายในของส่วนประกอบได้ เช่นเดียวกับที่แพทย์ใช้เพื่อตรวจสอบภายในร่างกายมนุษย์ ไมโครกราฟ 2 มิตินำเสนอภาพในสองมิติโดยมีองค์ประกอบซ้อนทับกัน แม้ว่าสิ่งนี้จะมีประโยชน์ในหลาย ๆ สถานการณ์ แต่เรากำลังเปลี่ยนไปใช้ภาพเอ็กซ์เรย์ 3 มิติมากขึ้นเรื่อยๆ เพื่อให้ได้ภาพภายในที่ชัดเจนยิ่งขึ้น ในความเป็นจริง การสร้างภาพ 3 มิติจะกลายเป็นเทคนิคที่สำคัญที่สุดในไม่ช้า เนื่องจากไอซีสมัยใหม่มีความซับซ้อนมากขึ้น
failure analysis ที่ซับซ้อนยังอาศัยเครื่องมือที่ช่วยให้ผู้เชี่ยวชาญด้านการวิเคราะห์สามารถติดตั้งตัวอย่างและใช้จอยสติ๊กเหมือนตัวควบคุมในการหมุน ซึ่งช่วยให้พวกเขาเข้าใจโครงสร้างได้ดีขึ้นมาก failure analysis โดยใช้ระบบเอ็กซเรย์ความละเอียดสูงจึงเป็นองค์ประกอบที่ขาดไม่ได้ในกระบวนการหาจุดอ่อนในระบบอิเล็กทรอนิกส์
